横山 洋之 (ヨコヤマ ヒロシ)

YOKOYAMA Hiroshi

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所属

情報統括センター 

研究分野・キーワード

VLSIの故障検査, コンピュータグラフィクス

出身大学 【 表示 / 非表示

  • 1985年04月
    -
    1989年03月

    秋田大学   鉱山学部   電子工学科   卒業

出身大学院 【 表示 / 非表示

  • 1991年04月
    -
    1993年03月

    秋田大学  鉱山学研究科  電子工学専攻  修士課程  修了

留学履歴 【 表示 / 非表示

  • 2009年03月
    -
    2009年08月

    米国 ウィスコンシン大学マディソン校   客員研究員

取得学位 【 表示 / 非表示

  • 東京大学 -  博士(工学)

職務経歴(学内) 【 表示 / 非表示

  • 2015年04月
    -
    2025年03月

    秋田大学   情報統括センター   准教授  

  • 2010年04月
    -
    2015年03月

    秋田大学   大学院工学資源学研究科   情報工学専攻   講師  

  • 1999年02月
    -
    2010年03月

    秋田大学   ■廃止組織■   工学資源学部   講師  

  • 1998年04月
    -
    1999年01月

    秋田大学   ■廃止組織■   工学資源学部   助手  

  • 1993年04月
    -
    1998年03月

    秋田大学   ■廃止組織■   鉱山学部情報工学科   助手  

職務経歴(学外) 【 表示 / 非表示

  • 1989年04月
    -
    1991年03月

      富士通株式会社   電子デバイス事業部   社員

学会(学術団体)・委員会 【 表示 / 非表示

  • 2013年03月
    -
    継続中
     

    日本国

     

    日本工学教育協会

  • 1999年05月
    -
    継続中
     

    日本国

     

    情報処理学会

  • 1998年06月
    -
    継続中
     

    日本国

     

    日本素材物性学会

  • 1994年05月
    -
    継続中
     

    アメリカ合衆国

     

    IEEE Computer Society

  • 1991年05月
    -
    継続中
     

    日本国

     

    電子情報通信学会

専門分野(科研費分類) 【 表示 / 非表示

  • VLSIの故障検査

 

学位論文 【 表示 / 非表示

  • LSIにおけるテストの高効率化に関する研究

    横山 洋之

    学位論文 博士(工学)東京大学    2000年02月

    単著

  • CMOS論理回路の電流テスト

    横山 洋之

    学位論文(修士) 秋田大学    1993年03月

    単著

論文 【 表示 / 非表示

  • Learning data conditions for resolution improvement using UAV data

    Kai Matsui, Hikaru Shirai, Yoichi Kageyama and Hiroshi Yokoyama

    2020 Joint 11th International Conference on Soft Computing and Intelligent Systems and 21st International Symposium on Advanced Intelligent Systems, SCIS-ISIS 2020 ( 2020 Joint 11th International Conference on Soft Computing and Intelligent Systems and 21st International Symposium on Advanced Intelligent Systems, SCIS-ISIS 2020 )    2020年12月  [査読有り]

    ISBN:9781728197326

    国内共著

    DOI

  • Recovery of Defective TSVs with A Small Number of Redundant TSVs in 3D Stacked ICs

    伊喜利 勇貴,橋爪 正樹, 四柳 浩之, 横山 洋之, Lu Shyue-Kung

    the 21st IEEE Workshop on RTL and High Level Testing     2020年11月  [査読有り]

    国際共著

  • 八郎湖を対象とするUAVデータのバンド比を用いた分解能向上における学習データセットの条件に関する検討

    松井 解, 白井 光, 景山 陽一, 横山 洋之

    自動制御連合講演会講演論文集 ( 自動制御連合講演会 )  63 ( 0 ) 236 - 239   2020年11月  [査読有り]

    国内共著

    DOI CiNii

  • Temperature Sensing with a Relaxation Oscillator in CMOS ICs

    Fumiya Sako , Yuki Ikiri , Masaki Hashizume , Hiroyuki Yotsuyanagi ,Hiroshi Yokoyama , and Shyue-Kung Lu

    ITC-CSCC 2020 - 35th International Technical Conference on Circuits/Systems, Computers and Communications ( ITC-CSCC 2020 - 35th International Technical Conference on Circuits/Systems, Computers and Communications )    141 - 144   2020年07月  [査読有り]

    ISBN:9784885523281

    国内共著

  • Fuzzy C-Means with Stepwise Level Slice Processing for Water Quality Analysis in Lake Hachiroko

    Kai Matsui, Yoichi Kageyama , Hiroshi Yokoyama

    The 7th International Conference on Intellignet Systems and Image Processing 2019 (Taipei Taiwan)     292 - 298   2019年09月  [査読有り]

    国内共著

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科研費(文科省・学振)獲得実績 【 表示 / 非表示

  • ICチップの入出力信号線の弛長発信回路を用いた破断予兆検出法に関する研究

    基盤研究(B)

    研究期間:  2017年04月  -  2021年03月  代表者:  橋爪正樹

    積層チップの貫通経路(TSV)の破壊予兆をアナログ組込み回路で検出する手法についての研究

  • ICチップの入出力信号線の弛長発信回路を用いた破断予兆検出法に関する研究

    基盤研究(B)

    研究期間:  2017年04月  -  2021年03月  代表者:  橋爪正樹

    積層チップの貫通経路(TSV)の破壊予兆をアナログ組込み回路で検出する手法についての研究

  • ICチップの入出力信号線の弛張発信回路を用いた破断予兆検出法に関する研究

    基盤研究(B)

    研究期間:  2017年03月  -  2021年03月  代表者:  橋爪正樹

    積層チップVLSIのTSV破断の予兆を、アナログ的な信号により検出する。

  • 分散型組込み自己テストによる論理回路のテスト容易化設計に関する研究

    科研費奨励研究(A)

    研究期間:  1999年03月  -  2000年04月 

    LSI のテストを効率良く行う手法として組込みテスト回路を被テスト回路内に分散させて配置する手法について研究を行った。被テスト回路内の1出現確率に応じた仮想的な弾性力を想定することでテスタビリティ解析する手法の検討を行った。それを基に回路内をテスト容易化する手法についての検討を行った。 (2100千円)

その他競争的資金獲得実績 【 表示 / 非表示

  • IDDQテストに関する研究

    提供機関:  民間財団等  電気普及財団

    研究期間: 1997年08月  -  1998年03月 

    資金支給機関区分:民間財団等

    IDDQテストに関する研究
    国際会議出席のための助成金を受けた(270千円)

  • 論理回路のテスト容易化合成に関する研究

    提供機関:  民間財団等  斉藤憲三顕彰会

    研究期間: 1997年06月  -  1998年03月 

    資金支給機関区分:民間財団等

    効率のよい論理回路のテスト容易化合成手法の検討を行った。(30千円)

共同研究実施実績 【 表示 / 非表示

  • ヘアーカットシミュレータの開発

    提供機関:    民間企業  国内共同研究

    研究期間:  2014年04月  -  2018年03月 

    カメラとコンピュータグラフィクスを用いて,美容師とお客の間で完成イメージの共有を容易にするためのシステムの開発を行う。

学会等発表 【 表示 / 非表示

  • 1I10, p.286

    横山洋之,玉本英夫

    LSIテストおけるピーク消費電力制限下での組込み多重重み付けランダムテスト法   2010年08月  -  2010年08月    電気関係学会東北支部連合大会

  • MC2-1, pp.553-557

    横山洋之,玉本英夫

    電流テスト容易化による動的電源電流を用いた故障検出手法  2003年08月  -  2003年08月    電気学会電子情報システム部門大会

  • N/A

    横山洋之

    IDDXテスト容易化に関する研究  2003年07月  -  2003年07月    STRAC(半導体理工学研究所)テストワークショップ

  • pp.62-65

    横山洋之,玉本英夫

    CMOSメモリ回路の電流テスト手法  1998年06月  -  1998年06月    日本素材物性学会年会講演要旨集

  • FTS96-39, pp.41-48

    横山洋之, 玉本英夫, 温暁青

    部分二重化による論理回路のランダムテスト容易化  1996年08月  -  1996年08月    電子情報通信学会技術研究報告

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