産業財産権 - 木下 幸則
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磁気力顕微鏡および磁気力顕微鏡の制御用磁場調整方法
特許
審査請求有無：なし
特願 2014-129187
出願日： 2014年06月24日
齊藤準,木下幸則,吉村哲
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強磁場発生試料の磁場観察方法および装置
特許
審査請求有無：なし
特願 特願02014-146492
出願日： 2014年05月25日
齊藤準,木下幸則,吉村哲
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特願 磁気力顕微鏡探針の評価装置および評価方法
特許
審査請求有無：なし
特願 2014-107632
出願日： 2014年05月24日
齊藤準, 木下幸則,吉村哲
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磁場値測定装置および磁場値測定方法
特許
審査請求有無：あり
特願 PCT/2014/JP059276 特開 WO2014157661A1
出願日： 2014年03月28日
公開日： 2014年10月02日
齊藤準,吉村哲,木下幸則,野村光,中谷亮一
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特願電気力／磁気力顕微鏡および電場／磁場同時測定方法
特許
審査請求有無：なし
特願 2014-016131
出願日： 2014年01月30日
齊藤準,吉村哲,木下幸則
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交流磁場測定装置および交流磁場測定方法
特許
審査請求有無：なし
特願 2013-180807
出願日： 2013年08月13日
齊藤準,木下幸則,吉村哲
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磁場値測定装置および磁場値測定方法
特許
審査請求有無：なし
特願 2013-069762
出願日： 2013年03月28日
齊藤準,吉村哲,木下幸則,野村光,中谷亮一
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磁性微粒子の磁気特性評価装置および磁気特性評価方法
特許
審査請求有無：なし
特願 2013-004025
出願日： 2013年01月11日
齊藤準,吉村哲,木下幸則