基本情報 【 表示 / 非表示

横山 洋之 (ヨコヤマ ヒロシ)

YOKOYAMA Hiroshi

写真a

所属

情報統括センター

職名

准教授

研究分野・キーワード

VLSIの故障検査, コンピュータグラフィクス

出身大学 【 表示 / 非表示

  • 秋田大学   鉱山学部   電子工学科   1989年03月  卒業

出身大学院 【 表示 / 非表示

  • 秋田大学  鉱山学研究科  電子工学専攻  修士課程  1993年03月  修了

取得学位 【 表示 / 非表示

  • 東京大学 -  博士(工学)

留学履歴 【 表示 / 非表示

  • 2009年03月
    2009年08月

    米国 ウィスコンシン大学マディソン校   客員研究員

職務経歴(学内) 【 表示 / 非表示

  • 2015年04月
    2020年03月

    秋田大学   情報統括センター   准教授  

    2015.04
    -
    2020.03

    Akita University   Center for Information Technology and Management   Associate Professor

  • 2010年04月
    2015年03月

    秋田大学   大学院工学資源学研究科   情報工学専攻   講師  

    2010.04
    -
    2015.03

    Akita University   Graduate School of Engineering and Resource Science   Department of Computer Science and Engineering   Lecturer

  • 1999年02月
    2010年03月

    秋田大学   ■廃止組織■   工学資源学部   講師  

    1999.02
    -
    2010.03

    Akita University   Abolished organization   Lecturer

  • 1998年04月
    1999年01月

    秋田大学   ■廃止組織■   工学資源学部   助手  

    1998.04
    -
    1999.01

    Akita University   Abolished organization   Research Assistant

  • 1993年04月
    1998年03月

    秋田大学   ■廃止組織■   鉱山学部情報工学科   助手  

    1993.04
    -
    1998.03

    Akita University   Abolished organization   Research Assistant

職務経歴(学外) 【 表示 / 非表示

  • 1989年04月
    1991年03月

      富士通株式会社   電子デバイス事業部   社員

所属学会・委員会等 【 表示 / 非表示

  • 2013年03月
    継続中
     

    日本工学教育協会  日本国

  • 1999年05月
    継続中
     

    情報処理学会  日本国

  • 1998年06月
    継続中
     

    日本素材物性学会  日本国

  • 1994年05月
    継続中
     

    IEEE Computer Society  アメリカ合衆国

    1994.05
    -
     
     

    IEEE Computer Society  UNITED STATES

  • 1991年05月
    継続中
     

    電子情報通信学会  日本国

 

論文 【 表示 / 非表示

  • 部分二重化とIDDQテストによる論理回路のランダムテスト容易化手法(共著)

    電子情報通信学会論文誌(D-I)   J81-D-I ( 6 )   851 - 860   1998年01月

  • Random Pattern Testable Design with Partial Circuit Duplication and IDDQ Testing

    The transactions of the institue of electronics, information and communication engineers D-I   J81-D-I ( 6 )   851 - 860   1998年01月

  • 遺伝的アルゴリズムを用いた組込み型多重重み付けランダムテストの最適化手法(共著)

    電子情報通信学会論文誌(D-I)   J79-D-2 ( 12 )   1083 - 1091   1996年01月

  • Built-In Multiple Weighted Random Testing based on Genetic Algorithms

    The transactions of the institue of electronics, information and communication engineers D-I   J79-D-2 ( 12 )   1083 - 1091   1996年01月

  • CMOS論理回路のランダムパターンによる組込み電流テスト

    電子情報通信学会論文誌D-I   J76-D1 ( 10 )   522 - 530   1993年01月

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